熱電阻溫度計是利用導(dǎo)體或半導(dǎo)體的電阻隨溫度變化這一特性。熱電阻溫度計的主要優(yōu)點有：測量精度高，復(fù)現(xiàn)性好；有較大的測量范圍，尤其是在低溫方面；易于使用在自動測量中，也便于遠(yuǎn)距離測量。同樣，熱電阻也有缺陷，在高溫（大于850℃）測量中準(zhǔn)確性不好；易于氧化和不耐腐蝕。

　　對熱電阻溫度計進(jìn)行檢定分度的可行性，并與普遍采用的CVD方程給出的溫度—電阻關(guān)系計算結(jié)果相比較，進(jìn)而給出二者存在的差異，探討建立精密電阻溫度計作為傳遞標(biāo)準(zhǔn)的途徑與方法。通過對不同型號、不同廠家制造的多支熱電阻在不同溫區(qū)分別開展研究和分析，給出每支溫度計的實驗結(jié)果、數(shù)據(jù)曲線及采用兩種不同方法分度所引起的測量誤差。

　　實驗證明，ITS-1990國際溫標(biāo)的內(nèi)插方法用于熱電阻溫度計是可行的，與CVD方程用于電阻檢定分度的計算方法相比，具有較好的準(zhǔn)確性和一致性。此前，意大利和加拿大的國家計量技術(shù)機構(gòu)進(jìn)行了采用國際溫標(biāo)內(nèi)插公式研究電阻分度方法的工作。

　　提高工業(yè)電阻測溫準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性的傳統(tǒng)手段都在元件純度、封裝技術(shù)、制作流程上下功夫；則從計算方法上給出了新思路，為精密鉑電阻和電阻在溫度量值傳遞和溯源體系的完善奠定了基礎(chǔ)，可廣泛應(yīng)用于電阻的測溫領(lǐng)域。